Rubén A. Quille R. 1,2, Eusebio C. Torres T. 1, Alejandro Trujillo Q. 1
1) Departamento Académico de FÃsica del Estado Sólido (DAFES)/ Universidad Nacional Mayor de San Marcos (UNMSM)
2) Departamento Académico de FÃsica / Universidad Nacional del Callao (UNAC), Callao-Perú
Resumen
En este trabajo se presenta el análisis de datos de difracción de rayos X usando el método de polvo, mediante la aplicación del método Rietveld, con el fin de determinar cuantitativamente los porcentajes en peso de las fases presentes en una muestra de Turmalina. Realizamos el refinamiento de la estructura cristalina de las dos fases presentes, a la vez se represento gráficamente cada estructura cristalina refinada y el Mapa de Fourier med